產(chǎn)品名稱：標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì) NIST SRM 656 - 氮化硅粉末(定量分析粉末衍射標(biāo)準(zhǔn))
英文名稱：Silicon Nitride Powders (Quantitative Analysis Powder Diffraction Standard)
品牌：美國NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
| 產(chǎn)品編號 | 規(guī)格 | 貨期 | 銷售價 | 您的折扣價 |
|---|---|---|---|---|
| SRM 656 | 2 x 10 g | 4周 | 8700 | 立即咨詢 |
- COA
- MSDS
NIST SRM 656 - 氮化硅粉末(定量分析粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)) 由兩種粉末組成，旨在通過粉末衍射法對氮化硅的 α 和 β 多晶型物進(jìn)行定量分析。粉末是 α 和 β 多晶型物的組合；一種α相含量高（α656），而另一種含有較多的β多晶型物（β656）。這種選擇允許用戶選擇最適合他們特定分析的粉末。一個 SRM 656 的單位由大約 10 g 的每種粉末組成。
粉末由亞微米、等軸、非聚集顆粒組成，不顯示消光或擇優(yōu)取向的影響。粉末在氬氣氣氛中裝瓶；已知氮化硅會與大氣中的水分緩慢反應(yīng)。對來自 X 射線粉末衍射數(shù)據(jù)的 Rietveld 分析的相量化和晶格參數(shù)值的分析表明，SRM 材料在衍射特性方面是均勻的。
認(rèn)證值：
NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi)。被測量是材料（氮化硅）的晶相純度、兩種多晶型物的質(zhì)量分?jǐn)?shù)（以百分比表示）以及表 1 和表 3 中提供的晶格參數(shù)的認(rèn)證值。計量溯源是衍生的質(zhì)量分?jǐn)?shù)單位（以毫克每千克表示）和長度（以納米表示）的 SI 單位；分別用于晶相純度和晶格參數(shù)。認(rèn)證值和不確定度是根據(jù) ISO/JCGM 指南 [1] 中描述的方法計算的。
信息值：
信息值被認(rèn)為是 SRM 用戶感興趣和使用的值，但沒有足夠的信息來充分評估與該值相關(guān)的不確定性，或者它是從有限數(shù)量的分析。信息值不能用于建立計量溯源性。氮化硅的兩種多晶型物 (α/β) 的相對強度信息值、參考強度比 (RIR) [2]（有關(guān) RIR 方法的完整討論，請參見參考文獻(xiàn) 3），來自分析的微觀結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)由激光散射測定的線譜展寬和粒度分布在表 4、5 和 6 中給出。
儲存和使用說明
儲存： NIST SRM 656 - 氮化硅粉末(定量分析粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)) 在氬氣中裝瓶以防潮。已知氮化硅與大氣水分緩慢反應(yīng)。不使用時，將此粉末的未使用部分蓋緊蓋子存放在原瓶中，或以類似或更好的防潮保護(hù)方式（例如干燥器）存放。
來源、準(zhǔn)備和分析
材料：用于α656的粉末是UBE E10，UBE Industries Ltd.（日本東京），而用于β656的粉末是Denka SN-P21FC，Denki Kagaku Kogyo K.K. （日本東京）。高 β 相含量粉末由 Denki Kagaku Kogyo K.K. 捐贈給 NIST。我們也感謝 UBE Industries Ltd. 的合作。
相純度：給定粉末樣品的長計數(shù)時間 X 射線粉末衍射圖可以提供與高純度粉末一致的數(shù)據(jù)，即沒有雜質(zhì)相并且背景與來自入射光束的空氣散射的貢獻(xiàn)一致和來自樣品的熱擴散散射。然而，由于晶體結(jié)構(gòu)的弛豫和表面反應(yīng)產(chǎn)物的包含，任何晶體材料的表面區(qū)域都不會像塊體那樣發(fā)生衍射。雖然這個表面層的厚度可能只有幾個晶體單位的數(shù)量級，但在細(xì)碎的固體中，它很容易占總質(zhì)量的幾個百分點。本文討論的“相純度”或“無定形含量”的表征不是在機械可分離的雜質(zhì)相的背景下，而是在 Si3N4 的化學(xué)和 SRM 原料的生產(chǎn)歷史中固有的微觀結(jié)構(gòu)特征。
陳經(jīng)理（銷售）
